產(chǎn)品概述

低溫/磁場(chǎng)微區(qū)光譜測(cè)試系統(tǒng)

我們的核心研發(fā)成員具有十余年的低溫，強(qiáng)磁場(chǎng)，光譜，自動(dòng)化控制與采集系統(tǒng)開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn)。我們將于2024年推出磁場(chǎng)下的微區(qū)光學(xué)測(cè)試解決方案。它支持最高達(dá)12 T磁場(chǎng)，低至2.8 K環(huán)境下的微區(qū)光學(xué)測(cè)試。包括熒光，熒光壽命，反射光譜，拉曼光譜，偏振分辨二次諧波，光電流，磁光克爾與反射磁圓二色。主要應(yīng)用于磁性二維材料或磁性薄膜材料與器件的磁性表征，居里溫度表征，表面拓?fù)浯沤Y(jié)構(gòu)表征，磁疇掃描成像。

與電學(xué)測(cè)試相比，磁光測(cè)試具有微米級(jí)的空間分辨能力，因此適用于需要高空間分辨的應(yīng)用，例如二維材料不同區(qū)域的磁性表征與對(duì)比，磁疇掃描成像。

此外，由于其無(wú)接觸非損傷的特性，測(cè)量過(guò)程簡(jiǎn)潔高效且不干擾樣品本身的物理特性。因此磁光測(cè)試甚至能夠在樣品進(jìn)行多工序制備的每一步過(guò)程中進(jìn)行表征，而不干擾樣品的制備流程。例如在制備多層異質(zhì)結(jié)時(shí)，逐步堆疊上層材料，分別測(cè)試每一層堆疊之后的樣品性質(zhì)變化。

由于光學(xué)手段不依賴于電流，因此，它能輔助電學(xué)實(shí)驗(yàn)獲得更準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。例如在電流導(dǎo)致的某些物理特性測(cè)試中，采用霍爾方法將不可避免的給樣品施加電流。而光學(xué)手段則能夠?qū)y(cè)試和電流兩個(gè)量分離，準(zhǔn)確的得到不同電流下樣品的磁性特征。

無(wú)需制備電極，給某些空氣或應(yīng)力敏感的樣品提供了一種更便捷的測(cè)試手段。結(jié)合眾韋光電的光學(xué)密封轉(zhuǎn)移樣品盒，能夠?qū)崿F(xiàn)從手套箱至磁體中測(cè)試的全流程樣品的氣氛保護(hù)。

我們?yōu)槁菥€管式和劈裂式這兩種類(lèi)型超導(dǎo)磁體分別設(shè)計(jì)了微區(qū)磁光測(cè)試解決方案：

磁體與低溫分體式，緊湊型超導(dǎo)磁體+光學(xué)低溫臺(tái)

*此圖僅作為原理示意，以實(shí)際為準(zhǔn)

可磁場(chǎng)/低溫適配的功能模塊

• 反射光譜；

• 拉曼/熒光；

• 熒光壽命；

• 二次諧波；

• 磁光克爾/反射磁圓二色；

• 光電流/霍爾效應(yīng)；

• 角分辨。

一體式變溫超導(dǎo)磁體系統(tǒng)，樣品桿式

*此圖僅作為原理示意，以實(shí)際為準(zhǔn)

低溫/磁場(chǎng)微區(qū)光譜測(cè)試系統(tǒng)典型數(shù)據(jù)