該系統(tǒng)用于測(cè)量等離子體發(fā)射光譜測(cè)量，采用模塊化設(shè)計(jì) 采用光纖導(dǎo)光或空間光耦合

產(chǎn)品型號(hào)：OmniES-Plasma

更新時(shí)間：2024-05-20

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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● 該系統(tǒng)用于測(cè)量等離子體發(fā)射光譜測(cè)量，采用模塊化設(shè)計(jì)

● 采用光纖導(dǎo)光或空間光耦合

● 可定位測(cè)量空間位置（選配功能）

● 測(cè)量光譜范圍：200-2500nm或1μm-14μm

● 光譜分辨率：優(yōu)于0.05nm（@1200g/mm光柵）

● 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：優(yōu)于±0.2nm

● 波長(zhǎng)重復(fù)性：優(yōu)于±0.1nm

● 光譜儀控制軟件包含濾光片輪自動(dòng)控制功能、光譜曲線繪制功能、全自動(dòng)測(cè)量、數(shù)據(jù)運(yùn)算、保存及打印等功能

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